Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Vishal T. · Відгук надано 31 хвилина тому

Divya B. · Відгук надано 43 хвилини тому

uci s. · Відгук надано близько 2 годин тому

Mohammad Aazib K. · Відгук надано близько 8 годин тому

Anadi S. · Відгук надано близько 9 годин тому

Yashvinder2gcp2025 G. · Відгук надано близько 10 годин тому

Chakravarthula V. · Відгук надано близько 10 годин тому

Sahil G. · Відгук надано близько 10 годин тому

Ajit P. · Відгук надано близько 11 годин тому

Mahaashri A. · Відгук надано близько 11 годин тому

Naveen R. · Відгук надано близько 13 годин тому

Rakhi G. · Відгук надано близько 13 годин тому

Raviraj S. · Відгук надано близько 13 годин тому

kaushal v. · Відгук надано близько 13 годин тому

Bhat A. · Відгук надано близько 14 годин тому

ARJI J. · Відгук надано близько 17 годин тому

Yash G. · Відгук надано близько 17 годин тому

HITBHAI L. · Відгук надано близько 18 годин тому

PALLAVI K. · Відгук надано близько 18 годин тому

Daki D. · Відгук надано близько 20 годин тому

Darshana G. · Відгук надано близько 20 годин тому

Pintu Y. · Відгук надано близько 21 години тому

Shirley J. · Відгук надано близько 21 години тому

Vishal V. · Відгук надано близько 21 години тому

Pratham R. · Відгук надано близько 21 години тому